jueves, 20 de octubre de 2011

Una nueva tecnología de rayos X permite analizar superficies sin dañarlas

El prototipo, desarrollado en Japón, extrae átomos de la capa superficial de cualquier material para observarlos.
Una nueva tecnología de escáner de rayos X, la primera de esta clase en el Reino Unido, podría mejorar la producción de aparatos y materiales utilizados para la observación del interior del cuerpo. La Universidad de Newscastle, con el profesor Peter Cumpson al frente del proyecto, ha lanzado el Servicio Nacional de Espectroscopio Fotoelectrón de Rayos X, que permitirá a los investigadores analizar al detalle la composición de la superficie de cualquier material, y detectar si en él existe algún tipo de contaminación o imperfección en el proceso de fabricación. La tecnología trabaja con miles de iones de argón que ayudan a difundir el impacto y minimizar el daño.